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簡(jiǎn)單介紹ts系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇，充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；

冷熱沖擊試驗(yàn)箱,溫度沖擊試驗(yàn)箱,高低溫沖擊試驗(yàn)箱  的詳細(xì)介紹ts系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱,溫度沖擊試驗(yàn)箱,高低溫沖擊試驗(yàn)箱

(tow/three-zone) thermal shock test chambers

*設(shè)備特點(diǎn)

規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇，充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求；

設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；

高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；

工作室材料為sus304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；

高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到最小；

表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；

高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門(mén)的高密封性；

多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等）保證了用戶(hù)多種功能和測(cè)試的需要；

大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；

環(huán)保型制冷劑  –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

*可根據(jù)用戶(hù)要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

*溫度控制

可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；

全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯；

每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流（過(guò)熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；

usb接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿(mǎn)足客戶(hù)的多種需要；

采用國(guó)際流行的制冷控制模式，可以0％~100％自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30％；

制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國(guó)際知名品牌產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

*設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)

gb/t 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

gb/t 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)a：低溫

gb/t 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)b：高溫

gb/t 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

gjb 150.3a-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)

gjb 150.4a-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)

gjb 150.5a-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)

gjb 360b-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

型號(hào)  tsl-80-atsu-80-wtss-80-wtsl-150-atsu-150-wtss-150-wtsl-225-wtsu-225-wtss-225-wtsl-408-wtsu-408-wtss-408-w標(biāo)稱(chēng)內(nèi)容積（升）80150200300試驗(yàn)方式氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換2溫室或3溫室方式性能高溫室預(yù)熱溫度范圍＋60～＋200℃升溫速率※1＋60→＋200℃≤20分鐘低溫室預(yù)冷溫度范圍－78－0℃降溫速率※1＋20→－75℃≤80分鐘試驗(yàn)室溫度偏差±2℃溫度范圍tsl:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;tsu:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;tss:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃溫度恢復(fù)時(shí)間※25分鐘以?xún)?nèi)試樣擱架承載能力30kg試樣重量7.5kg7.5kg10kg10kg內(nèi)部尺寸（mm）w500600750850h400500500600d400500600800外形尺寸（mm）※4w1460156017101880h1840194019402040d1500160017001900※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能�！�2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）

冷熱沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格表(programmable thermal shock tster)---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加ln2功能試驗(yàn)規(guī)范 駐留溫度(℃)

(exposure temp.)駐留溫度時(shí)間(min)

(exposure time)覆歸時(shí)間

(recovery time) 周期

或次數(shù)試驗(yàn)起

始點(diǎn)備注適用機(jī)臺(tái)型號(hào)

ts-(80/150/225/408)高溫室溫低溫高溫/低溫室溫sulmil-std-883e

(method no.1010.7)+85+10-----550≧10min

≦15min----含駐留時(shí)間&

轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min最少

10次低溫或

高溫temperature cycling

(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)

實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷

超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10

次則實(shí)驗(yàn)須重做◎◎----0+125+15◎◎----0-10+150+15◎◎----0+150+15-650◎.----0-10mil-std-202f

(method no.107g)+83+3-25+10-55028g以下

15～30 min

28～136g

30min

136g～1.36kg

60min

1.36～13.6kg

120min

13.6~136kg

240minmax.

5 min5 min 以?xún)?nèi)5 cycle

25

50

100低溫transfer time

不超過(guò)5 min◎◎◎0-3+125+3-650◎◎----0-5-5+125+3-650◎◎----0-5jis c 0025

iec 68-2-14

gb 2423.22+70+85+100+125±2±2±2±2室溫-5-10-25-40-55-65±3

±3

±3

±3

±3

±33hr

2hr

1hr

30min

或無(wú)定義則

以3hr定義手動(dòng)轉(zhuǎn)

移時(shí)間

2～3min為駐留時(shí)間

之1/105 cycle

除非有

其它規(guī)格低溫auto

transfer time

不超過(guò)30 sec

小試件

transfer time

不超過(guò)10 sec★★★◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎◎----ipc 2.6.7+70±2----0+015 min----2 min 以?xún)?nèi)100 cycle高溫

(試驗(yàn)結(jié)束

點(diǎn)在高溫)transfer time

不超過(guò)2 min★★★-0-5+85+5-40+0◎◎◎-0-5+105+5-55+0◎◎．-0-5+105+5-65+0．．-----0-5+105+5．．-----0ipc 2.6.6+85+3-25+10-55+030 min10-15

min5 cycle◎◎◎-0-5+125+3-5-65+0◎◎-----0-5bellcore

gr-1221-core+70±2----≧10min

≦15min----含駐留時(shí)間

&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min500 cycle

or

1000cycle◎◎◎+80±2◎◎◎jesd22

a104-a+125+10-40+0≦15min含駐留時(shí)間

&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min抽10次

可接受;

1000次

合格temperature

cycling

(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)

實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷

超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10

次則實(shí)驗(yàn)須重做◎◎◎-0-10+85+10-55+0◎◎．-0+125+10-0-10+150+10-0+150+10-65+0◎．----